多功能激光椭圆偏振仪-WJZ-II

以分光计为平台，测量薄膜厚度。利用软件进行数据处理。

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分光计系列

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多功能激光椭圆偏振仪-WJZ-II

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产品描述

实验内容:
测量薄膜厚度。
测量介质折射率。
验证马吕斯定律。
观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
以分光计为平台，测量薄膜厚度。
利用软件进行数据处理。
设备成套性:
半导体激光器、数字检流计、光电探头、
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0-300nm，
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0°-360°
游标读数 0.1°
测量精度:±2nm。
入射角y1=70°，K9玻璃折射率n=1.515.
消光系数:0，空气折射率1。
半导体激光器波长入=635nm。
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。