光强分布测试仪-TWGZ-I

单缝、多缝、矩孔、圆孔等干涉衍射观察测定综合性实验系统。测量单缝宽度。小孔、小屏、矩孔、双孔、光栅和正交光栅等的衍射、干涉现象演示实验。观察缝宽变化对衍射条纹的影响。

所属分类：

导轨式综合光学系列

关键词：

光强分布测试仪-TWGZ-I

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产品描述

实验内容:
测定单丝、双缝、多缝等衍射、干涉图形的一维光强分布。
仪器特点:
单缝、多缝、矩孔、圆孔等干涉衍射观察测定综合性实验系统。
测量单缝宽度。
小孔、小屏、矩孔、双孔、光栅和正交光栅等的衍射、干涉现象演示实验。观察缝宽变化对衍射条纹的影响。
主要技术指标:
导轨长度为1200mm。
半导体激光器，输入电压:DC=3V，
波长:入=635nm。
设备成套性:
精密导轨、半导体激光器、一维光强测试装置、小孔狭缝板、光栅板、可调狭缝、光电探头、小孔白屏、多功能光信号分析仪等。
可调狭缝宽度0~1mm(连续可调)。
一维光强分布测量距离>80mm，
最小读数:0.01mm。
小孔狭缝板、光栅板上集成多种不同规格干涉衍射元件。
配GX-I多功能光信号分析仪。